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半導(dǎo)體
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Application Overview
應(yīng)用概述
針對(duì)半導(dǎo)體芯片封裝、晶圓存儲(chǔ)等高敏感場(chǎng)景,丹泊提供精準(zhǔn)溫控環(huán)境試驗(yàn)箱,各類溫濕度可靠性相關(guān)的測(cè)試解決方案,助力半導(dǎo)體產(chǎn)品通過(guò)車(chē)規(guī)級(jí)、工業(yè)級(jí)認(rèn)證,賦能良率提升與研發(fā)周期縮短!
  • 芯片
    芯片研發(fā)和封裝階段需驗(yàn)證核心性能。
    高低溫性能測(cè)試 熱沖擊試驗(yàn) 低氣壓(高空)測(cè)試
  • 材料測(cè)試
    半導(dǎo)體材料(如硅片、光刻膠、封裝基板、金屬引線)的性能驗(yàn)證。
    濕熱老化試驗(yàn) 鹽霧腐蝕試驗(yàn) 紫外老化試驗(yàn)
  • 封裝存儲(chǔ)
    芯片與外界連接的關(guān)鍵環(huán)節(jié),可驗(yàn)證封裝后的芯片在復(fù)雜環(huán)境下的可靠性。
    溫循與濕熱復(fù)合試驗(yàn) 振動(dòng)與沖擊測(cè)試 高溫存儲(chǔ)試驗(yàn) 輻射耐受性測(cè)試
  • 設(shè)備部件
    生產(chǎn)設(shè)備(如光刻機(jī)、離子注入機(jī)、晶圓清洗機(jī))的核心部件需在穩(wěn)定環(huán)境下運(yùn)行,環(huán)境試驗(yàn)箱可驗(yàn)證其可靠性。
    高低溫振動(dòng)測(cè)試 潔凈室環(huán)境模擬
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